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Method, System, and Computer Program Product for Implementing a Direct Measurement Model for an Electronic Circuit Design

机译:用于实现电子电路设计的直接测量模型的方法,系统和计算机程序产品

摘要

Various embodiments of the present invention are generally directed to a method, system, and computer program product for implementing direct measurement model with simulation and calibration of manufacturing process model in the manufacturing of precision devices such as electronic integrated circuits. The method and the system determine the measured measurement result and the direct measurement information and compare the direct measurement information against the other to determine whether to adjust the process models and the empirical parameters thereof.
机译:本发明的各个实施例总体上涉及一种方法,系统和计算机程序产品,该方法,系统和计算机程序产品用于在诸如电子集成电路之类的精密设备的制造中通过制造过程模型的仿真和校准来实现直接测量模型。该方法和系统确定测量的测量结果和直接测量信息,并将直接测量信息与另一个进行比较,以确定是否调整过程模型及其经验参数。

著录项

  • 公开/公告号US2009172616A1

    专利类型

  • 公开/公告日2009-07-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 DMITRI LAPANIK;

    申请/专利号US20070966979

  • 发明设计人 DMITRI LAPANIK;

    申请日2007-12-28

  • 分类号G06F17/50;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 19:34:09

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