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TUNABLE INTEGRATED CIRCUIT DESIGN FOR NANO-SCALE TECHNOLOGIES

机译:纳米尺度技术的可调集成电路设计

摘要

The invention discloses a method for tuning nano-scale analog-circuit designs in order to reduce random-device mismatches and optimize said design, where nano-scale devices potentially have large-scale process variations. The method includes providing a tunable circuit topology, wherein each nano-scale device comprises a single component or comprises multiple parallel components. Each component is decomposed into multiple discrete sub-components, wherein each said sub-component either operates in parallel with other like components to effectively operate like one bigger component. The sub-components are subjected to a dynamic-programming process to adaptively select the sub-components to be kept operational, while configuring the nonselected sub-components to be nonoperational, based on the measurement of at least one operational parameter.
机译:本发明公开了一种用于调整纳米级模拟电路设计以减少随机设备失配并优化所述设计的方法,其中纳米级设备可能具有大规模工艺变化。该方法包括提供可调电路拓扑,其中每个纳米级装置包括单个组件或包括多个并行组件。每个组件分解成多个离散的子组件,其中每个所述子组件要么与其他类似组件并行操作,以像一个更大的组件一样有效地操作。对子组件进行动态编程过程,以基于至少一个操作参数的测量,在将未选择的子组件配置为不工作的同时,自适应地选择要保持工作的子组件。

著录项

  • 公开/公告号US2009089731A1

    专利类型

  • 公开/公告日2009-04-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 LAWRENCE T. PILEGGI;XIN LI;

    申请/专利号US20080243176

  • 发明设计人 XIN LI;LAWRENCE T. PILEGGI;

    申请日2008-10-01

  • 分类号G06F17/50;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 19:32:18

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