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Method and template for physical-memory allocation for implementing an in-system memory test

机译:用于实现系统内存测试的物理内存分配方法和模板

摘要

An in-system memory testing method includes transparently selecting and “stealing” a portion of memory from the memory system for running memory tests, then running one or more of the numerous known memory system tests on the selected portion of memory, and then inserting the selected, and now tested, portion of memory back into the system for normal application use. The disclosed in-system memory testing method is capable of testing system memory in both offline and online environments, without imposing any additional hardware requirements or significantly affecting system performance. The disclosed in-system memory testing method is compatible with any conventional prior art functional test algorithm for in-system memory testing and can be performed under real life system environmental conditions. Therefore, the disclosed in-system memory testing method complements other test techniques like BIST/POST that are conventionally used only at the time of system boot up.
机译:系统内存储器测试方法包括透明地从存储器系统中选择并“窃取”一部分存储器以进行存储器测试,然后在选定的存储器部分上运行众多已知存储器系统测试中的一项或多项,然后插入存储器中的一部分。选择并进行测试的一部分内存返回系统,以供正常应用程序使用。所公开的系统内存储器测试方法能够在离线和在线环境中测试系统存储器,而没有施加任何额外的硬件要求或显着影响系统性能。所公开的系统内存储器测试方法与用于系统内存储器测试的任何常规的现有技术功能测试算法兼容,并且可以在现实系统环境条件下执行。因此,所公开的系统内存储器测试方法补充了诸如BIST / POST之类的其他测试技术,这些技术通常仅在系统启动时使用。

著录项

  • 公开/公告号US7610523B1

    专利类型

  • 公开/公告日2009-10-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 AMANDEEP SINGH;

    申请/专利号US20060352085

  • 发明设计人 AMANDEEP SINGH;

    申请日2006-02-09

  • 分类号G11C29/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 19:31:17

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