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Lithographic and measurement techniques using the optical properties of biaxial crystals

机译:利用双轴晶体光学特性的光刻和测量技术

摘要

A method and apparatus for accurately retrieving the position of an optical feature. The method uses the optical properties of biaxial crystals to conically refract the optical feature and transform the image of the optical feature to a circular ring structure. The position of the optical feature is then calculated by locating a center point associated with the circular ring structure.
机译:一种用于准确地检索光学特征的位置的方法和设备。该方法利用双轴晶体的光学特性使光学特征锥形折射并将光学特征的图像转换为圆环结构。然后通过定位与圆环结构关联的中心点来计算光学特征的位置。

著录项

  • 公开/公告号US7541600B2

    专利类型

  • 公开/公告日2009-06-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 DANIEL NEUHAUSER;GABRIEL Y. SIRAT;

    申请/专利号US20060488176

  • 发明设计人 GABRIEL Y. SIRAT;DANIEL NEUHAUSER;

    申请日2006-07-14

  • 分类号G01J1/00;G01N21/00;G01N23/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 19:29:33

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