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GERMANIUM(GE) BASED METAL-INSULATOR TRANSITION(MIT) THIN FILM, MIT DEVICE COMPRISING THE SAME MIT THIN FILM AND METHOD OF FABRICATING THE SAME MIT DEVICE

机译:基于锗(GE)的金属绝缘体转变(MIT)薄膜,包括相同MIT薄膜的MIT装置以及制造该MIT装置的方法

摘要

A Ge based MIT thin film, the MIT device, the method for manufacturing the same are provided to easily grow the material of the MIT thin film by using the Ge element material. The MIT device comprises the substrate(100), and the Ge base MIT thin film (300a), at least two electrode thin films(410a,420a). The Ge base MIT thin film is formed on the substrate and generates the discontinuity metal-insulator transition(MIT) in the transition voltage. The electrode thin film is contacted with the Ge base MIT thin film. The Ge base MIT thin film causes the discontinuity MIT by voltage or the applied current.
机译:提供一种基于Ge的MIT薄膜,MIT装置及其制造方法,以通过使用Ge元素材料容易地生长MIT薄膜的材料。 MIT装置包括衬底(100)和Ge基底MIT薄膜(300a),至少两个电极薄膜(410a,420a)。 Ge基MIT薄膜形成在基板上,并在跃迁电压中产生不连续的金属-绝缘体跃迁(MIT)。电极薄膜与Ge基MIT薄膜接触。 Ge基MIT薄膜通过电压或施加的电流引起不连续MIT。

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