要解决的问题:提供一种制造扩散晶片的方法,该扩散晶片用于旋转蚀刻具有非扩散层和扩散层的扩散晶片,从而去除部分非扩散层以使扩散层的厚度减小。非扩散层几乎均匀。
解决方案:该方法包括旋转蚀刻步骤,该旋转蚀刻步骤通过薄片旋转蚀刻去除具有未扩散层21和扩散层22的扩散晶片20的未扩散层21的部分23。旋转蚀刻步骤使用旋转蚀刻装置,该旋转蚀刻装置可在扩散晶片20的面内方向D2上移动,并且具有用于将蚀刻剂供给到扩散晶片20的非扩散层21的液体供给口。端口分别位于扩散晶片20的平面内周边部分20c和平面中央部分20d上,以基于厚度控制非扩散层21的蚀刻量的晶片平面内分布。进行旋转蚀刻时的非扩散层21的取向形状。
版权:(C)2010,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2010010317A
专利类型
公开/公告日2010-01-14
原文格式PDF
申请/专利权人 SUMCO TECHXIV CORP;
申请/专利号JP20080166755
申请日2008-06-26
分类号H01L21/306;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 19:04:24