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METHOD OF MANUFACTURING DIFFUSED WAFER, AND DIFFUSED WAFER

机译:制造扩散晶片的方法和扩散晶片

摘要

PPROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method of manufacturing a diffused wafer for spin-etching a diffused wafer having a non-diffused layer and a diffused layer, thereby removing part of the non-diffused layer to make the thickness of the non-diffused layer almost uniform. PSOLUTION: The method includes the spin-etching step of removing the part 23 of the non-diffused layer 21 of the diffused wafer 20 having the non-diffused layer 21 and the diffused layer 22 by sheet spin-etching. The spin-etching step uses a spin-etching device movable in the in-plane direction D2 of the diffused wafer 20 and having a liquid supply port for supplying an etchant to the non-diffused layer 21 of the diffused wafer 20. The liquid supply port is positioned respectively on an in-plane peripheral part 20c and an in-plane central part 20d of the diffused wafer 20 to control the wafer in-plane distribution of an etched-off amount of the non-diffused layer 21 based on the thickness-oriented shape of the non-diffused layer 21 when performing the spin-etching. PCOPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT
机译:

要解决的问题:提供一种制造扩散晶片的方法,该扩散晶片用于旋转蚀刻具有非扩散层和扩散层的扩散晶片,从而去除部分非扩散层以使扩散层的厚度减小。非扩散层几乎均匀。

解决方案:该方法包括旋转蚀刻步骤,该旋转蚀刻步骤通过薄片旋转蚀刻去除具有未扩散层21和扩散层22的扩散晶片20的未扩散层21的部分23。旋转蚀刻步骤使用旋转蚀刻装置,该旋转蚀刻装置可在扩散晶片20的面内方向D2上移动,并且具有用于将蚀刻剂供给到扩散晶片20的非扩散层21的液体供给口。端口分别位于扩散晶片20的平面内周边部分20c和平面中央部分20d上,以基于厚度控制非扩散层21的蚀刻量的晶片平面内分布。进行旋转蚀刻时的非扩散层21的取向形状。

版权:(C)2010,日本特许厅&INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP2010010317A

    专利类型

  • 公开/公告日2010-01-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SUMCO TECHXIV CORP;

    申请/专利号JP20080166755

  • 申请日2008-06-26

  • 分类号H01L21/306;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 19:04:24

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