要解决的问题:通过获得用于阴影校正板的污损的高精度阴影校正数据,可以通过阴影校正处理提高图像再现性能。
解决方案:阴影校正处理包括将阴影校正板28分类为F块和S块的小区域,并从针对每个块的多个分类的小区域中检测有效区域。将检测到的有效区域设置为采用区域。在读取文件D之前,扫描阴影校正板28的采用区域,并获得用于高精度阴影校正的数据。
版权:(C)2010,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2010166562A
专利类型
公开/公告日2010-07-29
原文格式PDF
申请/专利权人 TOSHIBA CORP;TOSHIBA TEC CORP;
申请/专利号JP20100002836
申请日2010-01-08
分类号H04N1/19;H04N1/10;H04N1/107;G06T1/00;H04N1/401;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 19:04:07