要解决的问题:在调整至最佳检测范围的同时,以高速和高分辨率检测静电电容的微小变化,以消除微小的偏差以检测物体等的接近。
解决方案:静电电容检测装置包括:多个检测电极,布置在支撑基板上; CV转换装置,其由电阻器和电容器的串联连接构成,以转换为对应于属于电容器的静电电容的电压波形。检测电极连接到多个检测电极中的每一个,以及通用微计算机,其中输入/输出端口连接到每个检测电极,其中微计算机的CPU根据静电来计算接近物体的位置每个检测电极的电容或与静电电容的变化相对应的值。
版权:(C)2010,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2010152876A
专利类型
公开/公告日2010-07-08
原文格式PDF
申请/专利权人 SEIKO INSTRUMENTS INC;
申请/专利号JP20090263378
发明设计人 MATSUSHIMA KENICHI;
申请日2009-11-18
分类号G06F3/044;G01D5/24;G06F3/041;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 19:02:25