机译:A1变形过程的材料微观分析程序,用于在一个或多个阶段使用处理气体,使用偏振或非偏振电磁波或电子显微镜对冶金产品进行生产,以进行多级偏振。
公开/公告号CL2009001374A1
专利类型
公开/公告日2010-06-04
原文格式PDF
申请/专利号CL20090001374
发明设计人 JOHANNES SCHENK;KURT WIEDER;HARALD FISCHER;HEINRICH MALI;STEFAN SCHUSTERN;BERNHARD SPUIDA;FRANZ WINTER;
申请日2009-06-05
分类号C21B5/00;G05D21/00;
国家 CL
入库时间 2022-08-21 18:47:12