使用光偏振控制器进行偏振相关损耗和偏振度测量的设备

摘要

本实用新型涉及使用光偏振控制器进行偏振相关损耗和偏振度测量的设备及方法，属于光学测量技术领域，本实用新型包括：偏振模块，光从偏振模块通向光介质，偏振模块根据控制信号控制其接受到的光的偏振态；光探测器，接收通过光介质传输的光并产生一个探测输出；反馈模块，获取探测器输出并对接收到的探测器输出响应，产生控制信号控制偏振模块以调节光的偏振，使得光探测器中传输的光最大和最小。本设备用偏振控制器和偏振控制器的反馈控制，通过测量光器件的偏振损耗或者通过偏振控制器的光束的偏振度系统的控制通过偏振控制器的光的偏振。