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METHOD AND A CIRCUIT ARRANGEMENT FOR INCREASING THE DIELECTRIC STRENGTH OF METAL OXIDE TRANSISTORS AT LOW TEMPERATURES, CAPABLE OF THE DIELECTRIC STRENGTH OF AN ELECTRICAL CIRCUIT

机译:用于在低温下增加金属氧化物晶体管的介电强度的方法和电路布置,该能力可满足电气电路的介电强度

摘要

PURPOSE: A method and a circuit arrangement for increasing the dielectric strength of metal oxide transistors at low temperatures are provided to provide a circuit arrangement with increased dielectric strength at a low temperature without the selection of the metal oxide transistors.;CONSTITUTION: A circuit arrangement includes at least one metal oxide transistor. The metal oxide transistor is heated before an approximately breakdown voltage is applied to the metal oxide transistor. The heating process is performed by a high current which flows through the metal oxide transistor, the increase of the switching loss of the metal oxide transistor or the temporary linear operation of the metal oxide transistor.;COPYRIGHT KIPO 2010
机译:目的:提供一种用于在低温下增加金属氧化物晶体管的介电强度的方法和电路装置,以提供一种在不选择金属氧化物晶体管的情况下在低温下具有增加的介电强度的电路装置。包括至少一个金属氧化物晶体管。在将近似击穿电压施加到金属氧化物晶体管之前,加热金属氧化物晶体管。加热过程通过流过金属氧化物晶体管的高电流,金属氧化物晶体管的开关损耗的增加或金属氧化物晶体管的暂时线性操作来进行。; COPYRIGHT KIPO 2010

著录项

  • 公开/公告号KR20100031088A

    专利类型

  • 公开/公告日2010-03-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 OSRAM GESELLSCHAFT MIT BESCHRANKTER HAFTUNG;

    申请/专利号KR20090085795

  • 发明设计人 MUEHLSCHLEGEL JOACHIM;

    申请日2009-09-11

  • 分类号H01L29/78;H01L21/336;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 18:33:07

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