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METHOD FOR MANUFACTURING AN IMAGE SENSOR, CAPABLE OF PREVENTING DAMAGE TO POLY SILICON IN AN ION IMPLANTATION PROCESS

机译:制造能够防止离子注入过程中多晶硅损伤的图像传感器的方法

摘要

PURPOSE: A method for manufacturing an image sensor is provided to improve image quality by protecting poly silicon of a gate electrode formed on a substrate.;CONSTITUTION: Poly silicon and an oxide film(80) are formed on a semiconductor substrate(10). A first photo resist pattern is formed for etching the poly silicon and the oxide film. The oxide film and the poly silicon are etched by using a first photo resist pattern. A second photo resist pattern is formed on the semiconductor substrate and the oxide film for implanting an ion. A photo diode region is formed on the semiconductor substrate by performing an ion implantation process using the second photo resist pattern as an ion implantation mask.;COPYRIGHT KIPO 2010
机译:目的:提供一种图像传感器的制造方法,以通过保护形成在基板上的栅电极的多晶硅来改善图​​像质量。组成:在半导体基板(10)上形成多晶硅和氧化膜(80)。形成第一光致抗蚀剂图案以蚀刻多晶硅和氧化膜。通过使用第一光致抗蚀剂图案蚀刻氧化物膜和多晶硅。在半导体衬底和氧化膜上形成第二光致抗蚀剂图案,用于注入离子。通过使用第二光刻胶图案作为离子注入掩模执行离子注入工艺,在半导体衬底上形成一个光电二极管区域。COPYRIGHTKIPO 2010

著录项

  • 公开/公告号KR20100078104A

    专利类型

  • 公开/公告日2010-07-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 DONGBU HITEK CO. LTD.;

    申请/专利号KR20080136262

  • 发明设计人 KANG SUNG HYUN;

    申请日2008-12-30

  • 分类号H01L27/146;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 18:32:19

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