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An integrated sige - nmos - and - of pmos transistors is in a high performance - bicmos - process

机译:集成的simos-nmos和pmos晶体管具有高性能-bicmos-工艺

摘要

A method for the production of an integrated bicmos - circuit, wherein the circuit vertical bipolar transistors and cmos - transistors on a substrate (14), comprising the steps of:– Simultaneous formation of a channel region of a mos - transistor (12) and a base layer of a bipolar transistor (10) through the growth of an epitaxial layer, wherein the growth of the epitaxial layer (28), in turn, includes the steps of:– the epitaxial growing of a first sublayer of silicon (28a);– the epitaxial growing of a first sublayer of silicon - germanium (28b) on the first layer of silicon (28a);– the epitaxial growing of a second undercoat consists of silicon (28c) on the first layer of silicon - germanium (28b);– the epitaxial growing of a second undercoat consists of silicon - germanium (28d) on the second layer of silicon (28c).
机译:一种用于制造集成双晶片电路的方法,其中,电路垂直双极晶体管和CMOS晶体管在衬底(14)上,包括以下步骤:-同时形成mos晶体管(12)的沟道区和通过外延层的生长形成双极晶体管(10)的基层,其中,外延层(28)的生长又包括以下步骤:–外延生长硅的第一子层(28a) ;-在硅的第一层(28a)上外延生长硅-锗的第一子层(28b);-在硅-的第一层锗(28b)上外延生长的第二底涂层由硅(28c)组成); –第二层底涂层的外延生长由硅-第二层硅(28c)上的锗(28d)组成。

著录项

  • 公开/公告号DE102006028543B4

    专利类型

  • 公开/公告日2010-02-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号DE20061028543

  • 发明设计人

    申请日2006-06-21

  • 分类号H01L21/8249;H01L27/10;H01L29/12;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 18:29:05

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