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Apparatus and method for analyzing nanoparticles by coupling field flow fractionation and small angle X-ray scattering

机译:通过耦合场流分馏和小角度X射线散射来分析纳米颗粒的设备和方法

摘要

The invention relates to a method for the analysis of nanoparticles, wherein the nanoparticles are first fractionated as a function of their particle size and subsequently analyzed, wherein for the analysis of the nanoparticles X-ray small angle scattering is used and a corresponding device to perform the inventive method.
机译:用于分析纳米颗粒的方法本发明涉及一种用于分析纳米颗粒的方法,其中首先将纳米颗粒根据其粒径进行分馏并随后进行分析,其中对于纳米颗粒的分析,使用X射线小角度散射并使用相应的装置进行分析。本发明的方法。

著录项

  • 公开/公告号DE102008024739B3

    专利类型

  • 公开/公告日2009-12-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利号DE20081024739

  • 发明设计人

    申请日2008-05-21

  • 分类号G01N15;G01N15/02;G01N23/201;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 18:29:00

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