要解决的问题:提供一种气体分析仪,用于始终保持半导体激光元件的元件温度在预定的窄温度范围内。
解决方案:尽管半导体激光器元件12的环境温度由加热器18保持在为该元件设置的工作温度范围之上,但半导体激光器元件12始终由珀耳帖元件13冷却,基于通过温度传感器14获得的半导体激光元件12的元件温度的测量值,以将元件温度保持在工作温度范围内。在这样的温度控制下,不需要在实际的电路中进行继电器等的开关动作,也不会产生伴随该开关的等待时间,因此能够始终连续地控制元件温度。因此,可以将元件温度保持在预定的窄温度范围内。因此,发光强度和激光束的波长使其稳定,从而提高了激光型气体分析仪的分析精度。
版权:(C)2011,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2011108930A
专利类型
公开/公告日2011-06-02
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申请/专利权人 SHIMADZU CORP;
申请/专利号JP20090264031
发明设计人 KATO RUI;
申请日2009-11-19
分类号H01S5/068;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 18:22:30