要解决的问题:为了解决这样的问题,即当始终以高速变化的信号(例如时钟信号)用作电路的输入信号时,不能减少电路的瞬态分析中的计算量。
解决方案:存储部分1存储一个显示测试目标电路的网表。提取部3从存储在存储部1中的网表中提取表示测试对象电路所包含的周期电路的子网表,并根据周期输入信号输出周期输出信号。分析部4进行瞬态分析。对于由周期电路输出的周期输出信号的一个周期,由提取部分3提取的子网列表所示出的周期电路的周期。仿真部5基于分析部4的分析结果,对存储在存储部1中的网表所示的测试对象电路进行瞬态分析。
COPYRIGHT:(C)2011,JPO&INPIT
公开/公告号JP2011129029A
专利类型
公开/公告日2011-06-30
原文格式PDF
申请/专利权人 ELPIDA MEMORY INC;
申请/专利号JP20090288984
发明设计人 YAMADA JUNJI;
申请日2009-12-21
分类号G06F17/50;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 18:22:26