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Small-signal stability analysis at transient time points of integrated circuit simulation

机译:集成电路仿真瞬态时间点的小信号稳定性分析

摘要

Simulation method and system for analyzing the stability of a modeled electronic circuit. Simulation of the transient response to a desired input stimulus is performed in a piece-wise fashion, in a sequence of transient time points. At one or more user-specified time points (“tpunch” points) within the transient interval, the state of the circuit in the transient response at that time point is applied to the model as if it were a DC operating point, and the small-signal stability of the circuit under those conditions is analyzed. Transient instability of the circuit is thus discovered by way of simulation, allowing the designer to determine the cause and cure of that instability.
机译:用于分析建模电子电路的稳定性的仿真方法和系统。对所需输入刺激的瞬态响应的仿真是在一系列瞬态时间点上以分段方式进行的。在瞬变间隔内的一个或多个用户指定的时间点(“冲刺”点),该时间点的瞬态响应中的电路状态被应用到模型,就好像它是直流工作点一样,分析了这些条件下电路的信号稳定性。因此,可以通过仿真发现电路的瞬态不稳定性,从而使设计人员能够确定这种不稳定性的原因并加以解决。

著录项

  • 公开/公告号US8200461B2

    专利类型

  • 公开/公告日2012-06-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 GANG PETER FANG;

    申请/专利号US20090566457

  • 发明设计人 GANG PETER FANG;

    申请日2009-09-24

  • 分类号G06F17/50;G06F19;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 17:30:09

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