要解决的问题:提供一种在打开光圈时仅使用渐晕数据时能够根据光圈的实际打开程度实现阴影校正的技术。解决方案:渐晕数据计算装置包括:透镜数据获取单元111,用于当光圈32打开时获取光学系统上的渐晕数据;用于检测孔32的开度的检测装置; [P]版权:(C)2011,JPO&INPIT;和渐晕数据计算单元120,用于基于检测到的光圈的打开程度和在打开光圈32时的渐晕数据来计算关于光圈的打开程度的渐晕数据。
版权:(C)2011,JPO&INPIT
公开/公告号JP2011049638A
专利类型
公开/公告日2011-03-10
原文格式PDF
申请/专利权人 SONY CORP;
申请/专利号JP20090194107
发明设计人 AKAKABE SUKEKI;
申请日2009-08-25
分类号H04N5/228;H04N5/238;G03B17/14;G03B7/20;H04N101/00;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 18:21:56