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A method to evaluate pessimistic errors in statistical timing analysis

机译:统计时序分析中评估悲观错误的方法

摘要

First, a yield is calculated by employing conventional SSTA. Next, an independent LL set is determined, the independent LL set being a subset having sets of delay element sets that only include gates and nets not being shared by two or more paths. Next, a yield is calculated by employing SSTA while using only the independent LL set. Thereby, it is understood that the actual yield is between the yield obtained by employing the conventional SSTA and the yield obtained by employing the SSTA using only the independent LL set.
机译:首先,通过采用常规的SSTA来计算产率。接下来,确定独立的LL集合,该独立的LL集合是具有延迟元件集合的集合的子集,该延迟元件集合的集合仅包括未被两个或更多路径共享的门和网络。接下来,在仅使用独立LL集合的同时,通过采用SSTA来计算产量。由此,可以理解,实际收率介于通过使用常规SSTA获得的产率与通过仅使用独立LL集而通过采用SSTA获得的产率之间。

著录项

  • 公开/公告号JP4773903B2

    专利类型

  • 公开/公告日2011-09-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 富士通株式会社;

    申请/专利号JP20060185515

  • 发明设计人 池田 弘;

    申请日2006-07-05

  • 分类号G06F17/50;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 18:20:57

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