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CIRCUIT AND METHOD FOR GENERATING A REFERENCE VOLTAGE, A PHASE CHANGE RANDOM ACCESS MEMORY APPARATUS AND A READ OPERATION METHOD USING THE SAME, CAPABLE OF ENOUGH SECURING A SENSING MARGIN

机译:产生参考电压,相变随机存取存储器装置和使用该装置的读取操作方法的电路和方法,能够充分地保证传感裕度

摘要

PURPOSE: A circuit and method for generating a reference voltage, a phase change random access memory apparatus and a read operation method using the same are provided to generate a reference voltage for a read operation based on the resistance change of a phase change material.;CONSTITUTION: In a circuit and method for generating a reference voltage, a phase change random access memory apparatus and a read operation method using the same, at least one cell is composed of a variable resistance memory cell. A write driver(120) for the reference cell writes data in the reference cell(110). A sense amplifier(130) for a reference cell is read out data stored in the reference cell. A voltage compensation part(140) outputs a compensation reference voltage by controlling the reference voltage.;COPYRIGHT KIPO 2011
机译:目的:提供一种用于产生参考电压的电路和方法,相变随机存取存储装置以及使用该电路和方法的读取操作方法,以基于相变材料的电阻变化来产生用于读取操作的基准电压;构成:在用于产生参考电压的电路和方法,相变随机存取存储装置以及使用该装置的读取操作方法中,至少一个单元由可变电阻存储单元组成。参考单元的写驱动器(120)将数据写入参考单元(110)。用于参考单元的读出放大器(130)被读出存储在参考单元中的数据。电压补偿部分(140)通过控制参考电压来输出补偿参考电压。; COPYRIGHT KIPO 2011

著录项

  • 公开/公告号KR20110035744A

    专利类型

  • 公开/公告日2011-04-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HYNIX SEMICONDUCTOR INC.;

    申请/专利号KR20090093576

  • 发明设计人 KIM SOO GIL;PARK HAE CHAN;LEE SE HO;

    申请日2009-09-30

  • 分类号G11C5/14;G11C7/10;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 17:52:14

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