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LITHOGRAPHIC APPARATUS AND PATTERNING DEVICE CAPABLE OF INCREASING PROJECTING ACCURACY

机译:光刻技术和能够提高投影精度的图案化装置

摘要

PURPOSE: A lithographic apparatus and patterning device are provided to correct a plant at a frequency higher than the bandwidth of a controller, thereby correcting the lens vibration of a high frequency without damaging the stability of a control loop.;CONSTITUTION: Two wedges(WG1, WG2) are placed in a patterning device(MA). Beams arrive at each first grid provided onto a substrate. Some measured beams are reflected from the first grid to a projecting system. Detectors detect each measured beam. The substrate performs scanning in a direction vertical to the ground.;COPYRIGHT KIPO 2011
机译:用途:提供一种光刻设备和构图装置,用于以高于控制器带宽的频率校正植物,从而校正高频镜头振动而又不损害控制环的稳定性。;组成:两个楔形(WG1) ,WG2)放置在图案形成装置(MA)中。光束到达设置在基板上的每个第一栅格。一些测量的光束从第一栅格反射到投影系统。检测器检测每个测得的光束。基材在垂直于地面的方向上进行扫描。; COPYRIGHT KIPO 2011

著录项

  • 公开/公告号KR20110046357A

    专利类型

  • 公开/公告日2011-05-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ASML NETHERLANDS B.V.;

    申请/专利号KR20100105322

  • 发明设计人 BUTLER HANS;LOOPSTRA ERIK ROELOF;

    申请日2010-10-27

  • 分类号H01L21/027;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 17:52:01

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