机译:准直器的制造方法,该准直器在X射线检测器处用作分析栅格,以减少例如计算机断层扫描仪中用于检查患者的散射光束,涉及用金或钨填充中间空间
公开/公告号DE102009032983A1
专利类型
公开/公告日2011-01-20
原文格式PDF
申请/专利权人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT;
申请/专利号DE20091032983
发明设计人 HEMPEL ECKHARD;
申请日2009-07-14
分类号G21K1/02;A61B6/03;
国家 DE
入库时间 2022-08-21 17:47:47