机译:用于在物理气相沉积涂覆工厂中在涂覆期间确定玻璃基板的位置的光学位置测量系统的清洁方法,涉及执行局部热量调节以控制传感器头的温度
公开/公告号DE102010003413A1
专利类型
公开/公告日2011-09-29
原文格式PDF
申请/专利权人 VON ARDENNE ANLAGENTECHNIK GMBH;
申请/专利号DE20101003413
发明设计人 LESMANN STEFFEN;BAUER REINHARDT;JAEGER REINHARD;MUCHAMEDJAROW DAMIR;WAYDBRINK HUBERTUS VON DER;HENTSCHEL MICHAEL;KENNE MARCO;BOCK THOMAS;
申请日2010-03-29
分类号G01B11/00;B05C11/10;
国家 DE
入库时间 2022-08-21 17:47:24