机译:电场增强度的绝对值的测定方法,电场增强度的绝对值的测定装置,测定构件的测定方法,测定构件的测定装置,分析物的测定方法以及检测装置
公开/公告号JP2012042234A
专利类型
公开/公告日2012-03-01
原文格式PDF
申请/专利权人 KONICA MINOLTA HOLDINGS INC;
申请/专利号JP20100181365
申请日2010-08-13
分类号G01N21/27;G01N21/64;G01N21/45;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 17:40:34