要解决的问题:提供一种技术,该技术通过减少由通过获取图像而获得的多个图像的数据的平均值之间出现实质性差异而引起的误差,从而高度准确地校正压敏涂料测量方法的温度依赖性。通风停止后立即花费大量时间和参考光发射强度值。
解决方案:在通过随时间的温度变化来校正压敏涂料测量方法的温度依赖性的技术中,在存在压力分布的环境中通过成像获取的多个图像的数据和紧接在环境改变为均匀压力的环境之后,获取通过成像获取的多个图像。样品上同一点的发光强度随时间的变化可以通过曲线基于每个图像数据进行估算。基于时间序列变化的近似曲线,采用紧接向均匀压力的环境转变之前的发光数据和紧随转变之后的发光数据,以获得发光强度的比率。
版权:(C)2009,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP4953245B2
专利类型
公开/公告日2012-06-13
原文格式PDF
申请/专利权人 独立行政法人 宇宙航空研究開発機構;
申请/专利号JP20070092054
申请日2007-03-30
分类号G01L11/02;G01L1/00;G01L5/00;G01L7/00;G01N21/64;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 17:39:57