机译:将预处理套件中产生的包含卤素化合物和二氧化硫的废气制成用于分析处理设备的化学反应装置后,用于分析废气和卤素中卤素化合物和二氧化硫的分析方式
公开/公告号JP4827657B2
专利类型
公开/公告日2011-11-30
原文格式PDF
申请/专利权人 地方独立行政法人 東京都立産業技術研究センター;
申请/专利号JP20060222746
申请日2006-08-17
分类号G01N30/88;G01N31;G01N30/26;G01N30/64;G01N30/02;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 17:35:53