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Surface evaluation method of surface evaluation apparatus and microscopic object of microscopic object

机译:表面评估装置的表面评估方法和微观物体的微观物体

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a surface evaluation device of a micro object and a surface evaluation method of the micro object capable of evaluating the surface of one micro object.;SOLUTION: This device is characterized by having a cantilever for fixing the micro object on the tip, a weight change detection means for detecting a weight change of the micro object, a chamber for installing the cantilever in a specific environment, an introduction mechanism for introducing a material capable of interacting with molecular species constituting the surface of the micro object into the chamber, a heating means for heating the micro object, and a component analyzer for analyzing a component in the specific environment.;COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT
机译:解决的问题:提供一种能够评估一个微物体的表面的微物体的表面评估装置和微物体的表面评估方法。解决方案:该装置的特征在于具有用于固定微物体的悬臂。在尖端上,具有用于检测微物体的重量变化的重量变化检测装置,用于将悬臂安装在特定环境中的腔室,用于引入能够与构成微物体表面的分子种类相互作用的材料的引入机构。进入腔室,用于加热微物体的加热装置和用于分析特定环境中成分的成分分析仪。;版权所有:(C)2008,JPO&INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP4845649B2

    专利类型

  • 公开/公告日2011-12-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 キヤノン株式会社;

    申请/专利号JP20060242806

  • 发明设计人 日下 貴生;吉松 伸起;

    申请日2006-09-07

  • 分类号G01N5/02;G01N27/62;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 17:35:46

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