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机译:光学干涉仪和产生干涉图样的方法
公开/公告号PL211822B1
专利类型
公开/公告日2012-06-29
原文格式PDF
申请/专利权人 POLITECHNIKA WROCŁAWSKA;
申请/专利号PL20040368665
发明设计人 MASAJADA JAN;
申请日2004-06-21
分类号G02B26/00;G01B9/02;
国家 PL
入库时间 2022-08-21 17:23:16
机译: 光学干涉仪和干涉图样的产生方法
机译: 使用公共路径干涉仪形成干涉图样的曝光设备和装置制造方法以及使用干涉图样来计算投影光学器件的光学特性的处理器
机译: 光纤干涉图案传感器,光纤干涉图案信号检测方式,光纤干涉图案振动传感器,光纤干涉图案振动检测方法,光纤电缆对比方式,光纤芯线对比方式和光纤电话方式