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3D MEASUREMENT APPARATUS USING DUAL WAVE DIGITAL HOLOGRAPHY

机译:使用双波数字全息术的3D测量设备

摘要

PURPOSE: A 3D measuring system using dual-wave digital holography is provided to achieve hologram even using light beam of spherical waveform as reference beam. CONSTITUTION: A 3D measuring system using dual-wave digital holography comprises a light source(10), a beam splitting and interference part(20), a reference beam generating part(30), a photographing part(40), and a controller(50). The light source irradiates first and second lights having different wavelengths and polarization states. The beam splitting and interference part receives first and second measurement lights. The reference beam generating part is arranged on a reference light path. The photographing part takes images of the first measurement light, a first interference light, the second measurement light, and a second interference light. The controller extracts respective hologram images from the first and second interference lights and measures the surface shape of an object(100).
机译:目的:提供一种使用双波数字全息术的3D测量系统,即使使用球形波形的光束作为参考光束也能获得全息图。构成:使用双波数字全息术的3D测量系统,包括光源(10),分束和干涉部分(20),参考光束生成部分(30),摄影部分(40)和控制器( 50)。光源照射具有不同波长和偏振态的第一和第二光。分束和干涉部分接收第一和第二测量光。参考光束产生部分布置在参考光路上。拍摄部拍摄第一测量光,第一干涉光,第二测量光和第二干涉光的图像。控制器从第一和第二干涉光提取各自的全息图像,并测量物体的表面形状(100)。

著录项

  • 公开/公告号KR20120014355A

    专利类型

  • 公开/公告日2012-02-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 PEMTRON CO. LTD.;

    申请/专利号KR20100076360

  • 发明设计人 CHO CHEOL HOON;

    申请日2010-08-09

  • 分类号G01B9/021;G02B27/22;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 17:10:37

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