机译:微流体装置和样品检查装置,其通过将反应室和分配通道之间的延迟结构布置在相同的能力,从而将材料从反应室的运动延迟到分布通道中
公开/公告号KR20120023411A
专利类型
公开/公告日2012-03-13
原文格式PDF
申请/专利权人 SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD.;
申请/专利号KR20100086520
申请日2010-09-03
分类号G01N35/00;G01N35/10;G01N35/08;G01N33/48;
国家 KR
入库时间 2022-08-21 17:10:27