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METHOD AND APPARATUS FOR MEMORY FAULT SIMULATION USING BOTH SPACE AND TIMING DOMAIN

机译:同时使用空间和时序域进行内存故障仿真的方法和装置

摘要

PURPOSE: A method for memory fault simulator using a spatial-temporal concept and a device thereof are provided to use a physical structure of the memory included a cell unit, and a temporal concept, thereby performing the memory fault simulator. CONSTITUTION: An input unit(510) receives a memory structure, a test pattern, and a fault model. A test pattern applying unit(520) applies the test pattern to the memory structure. A fault detecting unit(530) detects the fault model according to spatial variation and temporal variation generated in the memory by the application. The memory structure includes information which determines physical composition of the memory. The fault model explains the fault by using a space and time. [Reference numerals] (510) Input unit; (520) Test pattern applying unit; (530) Fault detecting unit
机译:目的:提供一种使用时空概念的存储器故障模拟器的方法及其设备,以使用包括单元单元和时间概念的存储器的物理结构,从而执行存储器故障模拟器。构成:输入单元(510)接收存储器结构,测试模式和故障模型。测试图案施加单元(520)将测试图案施加到存储器结构。故障检测单元(530)根据应用程序在存储器中生成的空间变化和时间变化来检测故障模型。存储器结构包括确定存储器的物理组成的信息。故障模型通过使用空间和时间来解释故障。 [附图标记](510)输入单元; (520)测试图案施加单元; (530)故障检测单元

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