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Apparatus and method of measurement of birefringence, apparatus for the suppression of deformation and polarimeter

机译:测量双折射的装置和方法,抑制变形的装置和偏振计

摘要

The invention relates to a measuring apparatus of the birefringence is adapted to calculate an item of polarization of light emitted from an object (103) to be mesurée.il comprises a light source (101), a first polarization element (102), a plate (104) carrying the article (103), at least one unit (105) of division of the beam which divides the light coming from the object by two beams having the same polarization as that of said light, and at least two second polarization elements (106, 108) intended to extract the beams to be applied to two detectors (107, 109) of the quantity of lumière.domaine: manufacture of integrated circuits, etc, 1 / p
机译:双折射的测量设备技术领域本发明涉及一种双折射的测量设备,其适于计算从待测量的物体(103)发射的光的偏振项。il包括光源(101),第一偏振元件(102),板。 (104)承载物品(103),至少一个光束的分割单元(105),该光束将来自物体的光分成具有与所述光相同偏振的两个光束,以及至少两个第二偏振元件(106、108)旨在提取要施加到两个lumière.domaine数量的检测器(107、109)的光束:集成电路的制造等,<1 / p>

著录项

  • 公开/公告号FR2841648B1

    专利类型

  • 公开/公告日2012-08-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CANON KABUSHIKI KAISHA;

    申请/专利号FR20030007976

  • 发明设计人 SEIJI TAKEUCHI;YASUHIRO KISHIKAWA;

    申请日2003-07-01

  • 分类号G01J4/04;

  • 国家 FR

  • 入库时间 2022-08-21 17:04:24

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