要解决的问题:提供一种用于轴构件的超声探伤的方法和设备。
解决方案:使垂直波的缺陷检测超声波从沿轴构件的圆周方向可旋转地安装的相控阵探头入射到轴构件的表面上。相控阵探头偏心地布置以相对于轴构件的表面倾斜。超声波在轴构件的圆周方向上进行缺陷检测,同时通过扇形扫描法在轴构件的轴向上沿轴构件的轴向扫描压入旋转构件的部分。该装置包括相控阵探头,用于传输垂直波的探伤超声波。旋转盘,用于偏心固定相控阵探头;用于将旋转盘保持在轴构件的轴端处的机构,以使超声波探伤检测自由旋转。旋转盘的旋转角度检测器。
版权:(C)2009,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP5325394B2
专利类型
公开/公告日2013-10-23
原文格式PDF
申请/专利权人 JFEスチール株式会社;住重試験検査株式会社;
申请/专利号JP20070101210
申请日2007-04-09
分类号G01N29/04;G01N29/26;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 16:57:18