提供一种用于测量电子部件中的振动电子部件的寿命的方法,该方法能够通过电子部件的振动疲劳来方便地测量寿命,而不影响电子部件。
解决方案:用于测量电子部件中的振动电子部件9的寿命的方法包括以下步骤:在振动条件变化的情况下重复执行振动测试,直到电子部件与具有电子部件的基板11一起达到其振动疲劳寿命为止。在其上安装的电子元件9作为样本,并且建立基板11的应变量与振动疲劳寿命之间的相关性的数据库,并测量电子元件9中靠近安装的电子元件9的位置处的基板11的应变量。通过应变计13将其施加到产品上,并基于测得的应变量从数据库估计电子部件9的振动疲劳寿命。
版权:(C)2010和JPO&INPIT
公开/公告号JP5308129B2
专利类型
公开/公告日2013-10-09
原文格式PDF
申请/专利权人 三菱重工業株式会社;
申请/专利号JP20080296972
发明设计人 藥師寺 俊輔;
申请日2008-11-20
分类号G01N3/32;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 16:55:26