提供一种用于测量偏振特性并且能够执行实时测量的设备和方法。
解决方案:光从光源12发射,并通过偏振器22和第一个1/4波长板24进入样品30。该光透射过样品30,并进入样品顶部。锥镜62通过第二1/4波长板42和检偏器44。在第一1/4波长板24上的每个位置上的主轴方向与在第二1/4波长板上的每个位置上的主轴方向之间的比率。图4的波片42被配置为1:NA相机50捕获投射到圆柱屏幕60的内表面上的环形光束RP的图像,并将图像数据输出到运算装置70。
COPYRIGHT:(C )2011和JPO&INPIT
公开/公告号JP5308208B2
专利类型
公开/公告日2013-10-09
原文格式PDF
申请/专利权人 学校法人 埼玉医科大学;
申请/专利号JP20090079895
申请日2009-03-27
分类号G01N21/21;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 16:55:29