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Product life analysis apparatus and product life analysis method

机译:产品寿命分析装置和产品寿命分析方法

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To solve the problem of the conventional product life analysis apparatus in which: it is necessary to recreate a product life model by using monitoring data stored in the past besides new monitoring data each time new monitoring data is acquired and it takes a considerable time in calculation in order to estimate parameter values of the product life model in response to a latest use condition of equipment.SOLUTION: In a product life analysis apparatus, parameter values of a product life model are updated by using newly updated monitoring data and failure data of the product in the past. Therefore, the time required for the calculation can be reduced in comparison with the updating of parameter values of the product life model by using all the monitoring data stored in the past.
机译:要解决的问题:为了解决传统产品寿命分析设备的问题,其中:每次获取新的监视数据时,除了使用新的监视数据外,还需要使用过去存储的监视数据来重建产品寿命模型。解决方案:在产品寿命分析设备中,通过使用新近更新的监视数据来更新产品寿命模型的参数值,从而需要花费大量的时间才能估算出产品寿命模型的参数值。和过去的产品故障数据。因此,与通过使用过去存储的所有监视数据来更新产品寿命模型的参数值相比,可以减少计算所需的时间。

著录项

  • 公开/公告号JP5076031B2

    专利类型

  • 公开/公告日2012-11-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社東芝;

    申请/专利号JP20120011560

  • 申请日2012-01-23

  • 分类号G06Q50/10;G06Q10/04;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 16:55:25

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