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Fluorescence lifetime measuring apparatus, fluorescence lifetime measuring method and program

机译:荧光寿命测定装置,荧光寿命测定方法及程序

摘要

A fluorescence life measuring apparatus, a fluorescence life measuring method and a program that can obtain fluorescence life using a simple configuration are proposed. The apparatus moves a stage on which a fluorescent material to be measured is placed, irradiates with excitation light the fluorescent material placed on the stage moved at a constant speed, images afterglow of emitted fluorescence caused by the excitation light, and uses an imaged image to detect the elapsed time from a fluorescence position and afterglow strength at a target afterglow position and calculate the fluorescence life.
机译:提出了一种荧光寿命测量设备,荧光寿命测量方法和程序,其可以使用简单的配置来获得荧光寿命。该设备移动放置有待测荧光材料的平台,用激发光照射以恒定速度移动的载物台上的荧光材料,对由激发光引起的发射荧光的余辉进行成像,并使用成像的图像从荧光位置和目标余辉位置的余辉强度检测经过的时间,并计算荧光寿命。

著录项

  • 公开/公告号JP5169857B2

    专利类型

  • 公开/公告日2013-03-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ソニー株式会社;

    申请/专利号JP20090007722

  • 发明设计人 中尾 勇;玉村 好司;

    申请日2009-01-16

  • 分类号G01N21/64;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 16:54:48

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