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TIME-BASED APPARATUS AND METHOD TO MITIGATE SEMICONDUCTOR AGING EFFECTS

机译:缓解半导体老化效应的基于时间的装置和方法

摘要

Systems, methods, and computer readable media that can mitigate the effects of semiconductor aging in a semiconductor device are described. Traditional methods of mitigating semiconductor aging can be wasteful since they overcorrect for aging using a high operational voltage. The approach discussed herein steps up the operational voltage for the electronic device with time based on predetermined aging models. This allows power consumption by the electronic device, particularly early in the designed operational life, to be much less than it would otherwise be.
机译:描述了可以减轻半导体器件中的半导体老化的影响的系统,方法和计算机可读介质。减轻半导体老化的传统方法可能是浪费的,因为它们使用高工作电压对老化进行了过度校正。本文讨论的方法基于预定的老化模型随着时间增加电子设备的工作电压。这允许电子设备的功耗,特别是在设计的使用寿命中,要比原本要少得多。

著录项

  • 公开/公告号US2013043914A1

    专利类型

  • 公开/公告日2013-02-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ANATOLY GELMAN;

    申请/专利号US201113331765

  • 发明设计人 ANATOLY GELMAN;

    申请日2011-12-20

  • 分类号H03L7;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 16:49:39

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