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Method for modeling conductor surface roughness

机译:导体表面粗糙度建模的方法

摘要

A method provides modeling of surface roughness effect of an electrical conductor. The method includes identifying first protrusions of a first level using an original flat surface of the conductor as a first base surface and determining a first correction factor of the first level using parameters of the first protrusions. The method further includes identifying second protrusions of a second level using the first protrusions and the first base surface as a second base surface, and determining a second correction factor of the second level using parameters of the second protrusions and regarding the second base surface as being a smooth surface, the smooth surface being a surface of the conductor without surface roughness effect. A final correction factor of the conductor is determined by combining the first correction factor and the second correction factor.
机译:一种方法提供了电导体的表面粗糙度效应的建模。该方法包括使用导体的原始平坦表面作为第一基础表面来识别第一水平的第一突起,以及使用第一突起的参数来确定第一水平的第一校正因子。该方法还包括使用第一突起和第一基础表面作为第二基础表面来识别第二级的第二突起,以及使用第二突起的参数并且将第二基础表面视为第二级来确定第二级的第二校正因子。光滑表面,光滑表面是没有表面粗糙度影响的导体表面。通过组合第一校正因子和第二校正因子来确定导体的最终校正因子。

著录项

  • 公开/公告号US8527246B1

    专利类型

  • 公开/公告日2013-09-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 YUNHUI CHU;

    申请/专利号US20100869855

  • 发明设计人 YUNHUI CHU;

    申请日2010-08-27

  • 分类号G06G7/48;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 16:44:38

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