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Circuit design change and correspondence point finding method between HDL land RLT design

机译:HDL焊盘RLT设计之间的电路设计变更及对应点寻找方法

摘要

A change point finding method applied to a logic circuit is provided. The method first defines an indication map and performs a functional equivalent check to judge whether the indication map is correct. When a result is confirmative, the method adds a trap to an RTL HDL of the logic circuit, so that a plurality of comparing points are generated in an APR gate level HDL of the logic circuit. Then the method performs a backward functional equivalent check on the APR gate level HDL of the logic circuit to find a change point according to the comparing points.
机译:提供了一种应用于逻辑电路的变化点发现方法。该方法首先定义指示图并执行功能等效检查以判断指示图是否正确。当结果是肯定的时,该方法将陷阱添加到逻辑电路的RTL HDL,从而在逻辑电路的APR门级HDL中产生多个比较点。然后,该方法对逻辑电路的APR门级HDL执行后向功能等效检查,以根据比较点找到变化点。

著录项

  • 公开/公告号US8370788B2

    专利类型

  • 公开/公告日2013-02-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CHEN-HSING LO;CHIEN-PANG LU;

    申请/专利号US20100698468

  • 发明设计人 CHEN-HSING LO;CHIEN-PANG LU;

    申请日2010-02-02

  • 分类号G06F11/22;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 16:42:34

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