首页> 外国专利> PIXEL MATRIX WITH INDIVIDUAL EXPOSURE TIME CHECKS ON ENN PIXEL OR FIELD OF PIXELS.

PIXEL MATRIX WITH INDIVIDUAL EXPOSURE TIME CHECKS ON ENN PIXEL OR FIELD OF PIXELS.

机译:在ENN像素或像素场上具有单独曝光时间检查的像素矩阵。

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号BE1020440A5

    专利类型

  • 公开/公告日2013-10-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CMOSIS NV;

    申请/专利号BE20120000442

  • 发明设计人 MEYNANTS GUY;

    申请日2012-06-29

  • 分类号H04N5/345;H01L27/146;H04N5/353;H04N5/3745;

  • 国家 BE

  • 入库时间 2022-08-21 16:42:28

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号