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SINGLE WAVELENGTH STIMULATED EMISSION DEPLETION MICROSCOPY

机译:单波长激发的发射损耗显微镜

摘要

An apparatus for superresolution microscopy or microlithography, wherein a spot in the specimen (15) to be examined or in the microlithographic medium (15) is raised to an excited state by a first pulse (3) of light, and a second pulse (3') of light reduces th excitation in the peripheral parts of the spot to increase the resolution of the instrument, wherein the wavelength of the second pul (31) in the specimen or the medium (15) is the same as the first pulse (3).
机译:一种用于超分辨率显微镜或微光刻的设备,其中待检样品(15)或微光刻介质(15)中的光点通过第一脉冲(3)和第二脉冲(3)升高到激发态。 ')的光减少了光斑外围部分的激发,从而提高了仪器的分辨率,其中样本或介质(15)中的第二脉冲(31)的波长与第一脉冲(3)相同)。

著录项

  • 公开/公告号EP1839037B1

    专利类型

  • 公开/公告日2013-10-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 BAER STEPHEN C;

    申请/专利号EP20060718959

  • 发明设计人 BAER STEPHEN C.;

    申请日2006-01-17

  • 分类号G02B21/16;G01N21/63;G01N21/64;G03F7/20;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 16:35:17

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