机译:掩模版,光刻技术以及用于投射两个或多个图像场的方法,该扫描技术可以对光刻过程进行一次扫描操作,从而可以提高光刻设备的扫描操作效率
公开/公告号KR20130056830A
专利类型
公开/公告日2013-05-30
原文格式PDF
申请/专利权人 ASML NETHERLANDS B.V.;
申请/专利号KR20120132354
发明设计人 VAN DER VEEN PAUL;
申请日2012-11-21
分类号H01L21/027;G03F7/20;
国家 KR
入库时间 2022-08-21 16:27:04