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GAS ANALYSIS APPARATUS USING A MULTI-FREQUENCY, CAPABLE OF EASILY ANALYZING VARIATION INSIDE A CHAMBER

机译:使用多频率,可在腔室内轻松进行分析变化的气体分析装置

摘要

PURPOSE: A gas analysis apparatus using a multi-frequency is provided to simultaneously radiate frequencies having mutually different bands, thereby uniformly discharging plasma.;CONSTITUTION: A gas analysis apparatus using a multi-frequency includes an auxiliary chamber, a first frequency generating part (120), a second frequency generating part (130), and a spectrum analyzer (140). A gas inside a chamber flows into the auxiliary chamber through an exhaust pipe. The auxiliary chamber converts the gas into plasma. The first frequency generating part applies a first frequency to the auxiliary chamber. The second frequency generating part applies a second frequency to the auxiliary chamber. The spectrum analyzer analyzes a ray from the auxiliary chamber.;COPYRIGHT KIPO 2013
机译:目的:提供一种使用多频率的气体分析设备,以同时辐射具有互不相同的频段的频率,从而均匀地释放等离子体。;构成:一种使用多频率的气体分析设备,包括一个辅助腔室,一个第一频率产生部分( 120),第二频率生成部分(130)和频谱分析仪(140)。室内的气体通过排气管流入辅助室内。辅助腔室将气体转化为等离子体。第一频率产生部分将第一频率施加到辅助室。第二频率产生部分将第二频率施加到辅助室。频谱分析仪分析来自辅助室的射线。; COPYRIGHT KIPO 2013

著录项

  • 公开/公告号KR101288047B1

    专利类型

  • 公开/公告日2013-07-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NANOTEK INC.;

    申请/专利号KR20120056200

  • 发明设计人 CHA DONG HO;NAM YUN SEOK;

    申请日2012-05-25

  • 分类号H01L21/66;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 16:24:48

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