退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
机译:X射线分析装置,x射线分析系统,x射线分析方法及x射线分析程序
公开/公告号GB201312610D0
专利类型
公开/公告日2013-08-28
原文格式PDF
申请/专利权人 RIGAKU CORPORATION;
申请/专利号GB20130012610
发明设计人
申请日2013-07-15
分类号
国家 GB
入库时间 2022-08-21 16:20:35
机译: X射线分析装置,X射线分析系统,X射线分析方法以及X射线分析程序