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Inspection manner and production manner of silicon block, production manner of silicon wafer, production manner of solar cell and production manner of solar battery module

机译:硅块的检查方式和生产方式,硅片的生产方式,太阳能电池的生产方式和太阳能电池组件的生产方式

摘要

The present invention provides a method of inspecting a silicon block which is cut from a polycrystalline silicon ingot that is formed by uniaxial coagulation, comprising: a lifetime measurement step of measuring the lifetime of a silicon block minority carrier; and an oxygen concentration computation step of computing from the lifetime which is measured in the lifetime measurement step the oxygen concentration of the silicon block.
机译:本发明提供一种检查从通过单轴凝固形成的多晶硅锭切下的硅块的方法,该方法包括:测量硅块少数载体的寿命的寿命测量步骤;氧浓度计算步骤,由在寿命测量步骤中测量的寿命计算出硅块的氧浓度。

著录项

  • 公开/公告号JP5367796B2

    专利类型

  • 公开/公告日2013-12-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 シャープ株式会社;

    申请/专利号JP20110229529

  • 发明设计人 大石 隆一;

    申请日2011-10-19

  • 分类号G01N22;H01L31/04;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 16:12:33

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