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SPACER SHAPER FORMATION WITH CONFORMAL DIELECTRIC FILM FOR VOID FREE PMD GAP FILL

机译:具有保形介电膜的间隔成形器,用于无空隙的PMD间隙填充

摘要

An integrated circuit may be formed by removing source/drain spacers from offset spacers on sidewalls of MOS transistor gates, forming a contact etch stop layer (CESL) spacer layer on lateral surfaces of the MOS transistor gates, etching back the CESL spacer layer to form sloped CESL spacers on the lateral surfaces of the MOS transistor gates with heights of ¼ to ¾ of the MOS transistor gates, forming a CESL over the sloped CESL spacers, the MOS transistor gates and the intervening substrate, and forming a PMD layer over the CESL.
机译:可以通过从MOS晶体管栅极的侧壁上的偏移间隔物去除源极/漏极间隔物,在MOS晶体管栅极的侧面上形成接触蚀刻停止层(CESL)间隔物层,回蚀CESL间隔物层以形成集成电路来形成集成电路高度为MOS晶体管栅极的1/4到3/4的MOS晶体管栅极侧面上的倾斜CESL隔离物,在倾斜的CESL隔离物,MOS晶体管栅极和中间基板上形成CESL,并在CESL上方形成PMD层。

著录项

  • 公开/公告号US2014021556A1

    专利类型

  • 公开/公告日2014-01-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED;

    申请/专利号US201313906500

  • 发明设计人 TOM LII;

    申请日2013-05-31

  • 分类号H01L27/092;H01L21/8238;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 16:04:54

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