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Defect detection using pattern matching on detected data

机译:使用模式匹配对检测到的数据进行缺陷检测

摘要

Systems and methods for detection of defects on a magnetic storage medium. The method comprises: (1) receiving incoming detected data generated by reading information recorded on a storage medium, (2) identifying the defects in the storage medium based on comparison between the incoming detected data and a data pattern wherein the data pattern is predetermined; and (3) storing location information indicative of locations of the defects on the storage medium.
机译:用于检测磁存储介质上的缺陷的系统和方法。该方法包括:(1)接收通过读取记录在存储介质上的信息而生成的输入检测数据,(2)基于输入检测数据与其中数据模式是预定的数据模式之间的比较来识别存储介质中的缺陷;以及(3)在存储介质上存储表示缺陷位置的位置信息。

著录项

  • 公开/公告号US8683277B1

    专利类型

  • 公开/公告日2014-03-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NEDELJKO VARNICA;GREGORY BURD;

    申请/专利号US201113180723

  • 发明设计人 NEDELJKO VARNICA;GREGORY BURD;

    申请日2011-07-12

  • 分类号G11C29/00;G01R31/28;G06F11/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 16:00:53

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