首页> 外国专利> System for determining a location on a 2D surface or in a 3D volume

System for determining a location on a 2D surface or in a 3D volume

机译:用于确定2D表面或3D体积中位置的系统

摘要

A system for determining a location on a 2D surface or in a 3D volume. The system includes a probe and a tracker. The probe includes a marker, an indicator, and a reflective surface, wherein the probe is configured so the reflective surface forms a virtual image of the marker having an apparent location coincident to a location of the indicator. The tracker configured to measure the apparent location of the virtual image of the marker.
机译:一种用于确定2D表面或3D体积中位置的系统。该系统包括一个探针和一个跟踪器。该探针包括标记,指示剂和反射表面,其中探针被配置为使得反射表面形成标记的虚像,该虚像具有与指示剂的位置重合的明显位置。跟踪器配置为测量标记的虚拟图像的外观位置。

著录项

  • 公开/公告号US8638451B2

    专利类型

  • 公开/公告日2014-01-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 IVAN FAUL;

    申请/专利号US201213632471

  • 发明设计人 JURIS G MELKIS;IVAN FAUL;DENNIS TOMS;

    申请日2012-10-01

  • 分类号G01B11/14;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 15:59:25

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号