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SYSTEMS AND METHODS FOR MAPPING STATE ELEMENTS OF DIGITAL CIRCUITS FOR EQUIVALENCE VERIFICATIONS

机译:用于映射数字电路的状态元素以进行等效性验证的系统和方法

摘要

Systems and methods for mapping state elements of digital circuits for equivalence verification are provided. One method for mapping state elements for equivalence verification between a first circuit and a second circuit includes (a) determining a first sequential depth from primary inputs and primary outputs of the first circuit and the second circuit to each state element thereof, wherein the first sequential depth is a minimum count of state elements along any path between two points of a circuit, (b) identifying and mapping first state elements of the first circuit and the second circuit having a unique first sequential depth, (c) determining a second sequential depth from the identified first state elements of the first circuit and the second circuit to the remaining state elements, (d) identifying second state elements of the first circuit and the second circuit having a unique second sequential depth, and (e) repeating (c) and (d) unless the process is no longer generating new unique mappings of state elements.
机译:提供了用于映射数字电路的状态元素以进行等效性验证的系统和方法。用于在第一电路和第二电路之间映射状态元素以进行等效性验证的一种方法包括:(a)确定从第一电路和第二电路的主输入和主输出到其每个状态元素的第一顺序深度,其中,第一顺序深度深度是沿着电路的两点之间的任何路径的状态元素的最小数量,(b)标识和映射具有唯一的第一顺序深度的第一电路和第二电路的第一状态元素,(c)确定第二顺序深度从标识的第一电路和第二电路的第一状态元素到其余的状态元素,(d)标识具有唯一的第二顺序深度的第一电路和第二电路的第二状态元素,以及(e)重复(c) (d)除非该过程不再生成状态元素的新的唯一映射。

著录项

  • 公开/公告号KR101331270B1

    专利类型

  • 公开/公告日2013-11-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号KR20110124383

  • 发明设计人 리드코프 마크 떠블유.;

    申请日2011-11-25

  • 分类号G06F17/50;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 15:44:19

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